GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統主要介紹

GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統是我院研制的即可低溫測試D33系數，又可以高溫測試D33系數。主要是針對高低溫壓電陶瓷材料和薄膜材料的測試。

二、主要應用領域：無損檢測超聲檢測，醫(yī)療超聲檢測，航空航天，石油天然器，汽車物聯網，工業(yè)

GDPT-900A型變溫壓電d33測量系統主要技術參數

1、d33測量范圍：1PC/N-6000PC/N(1.5PC-30000PC)

2、力顯示：0.01-4N

3、電源：電壓220V

4、溫度范圍：溫度-100℃至+500℃

5、溫控精度：溫度顯示精度0.01℃，溫度控制精度±0.1℃，溫度漂移優(yōu)于±0.1℃內，超調≤0.1℃。

6、升溫斜率：0.00至5.00℃/min，典型值2.00℃/min。

7、間隔保溫：0.10至50.00℃/點，保溫5分鐘即可達到溫度穩(wěn)定狀態(tài)。  

8、樣品夾具：夾持雙面電極樣品，直徑小于30mm，厚度小于5mm。

9、測量環(huán)境：低溫、高溫、空氣等。

10、電極材料：耐高溫電極。

11、制冷方式：液氮控制系統

12、顯示：液晶顯示

13、采集方式：USB2.0高速數據

14、總重量: 15kg左右。

15、軟件：專用軟件自動測試溫度與壓電系數的關系變化

GWTF-300高溫鐵電材料測量系統

GWTF-300高溫鐵電材料測量系統是一套建立在高溫高壓下的鐵電測量系統，旨在針對一些特殊的要求材料需要在高溫下測量而研發(fā)的一套鐵電測量系統。該系統不僅僅在溫度上將實現了高溫測試，而且在電壓和頻率上進行了提高，對我們的鐵電材料研究和測試帶來更加重要的幫助，該系統可以測量鐵電材料的電滯回線，飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V和開關特性等性能的測試。

GWTF-300高溫鐵電材料測量系統技術指標

1.輸出信號電壓：：0-4000/5000/6000/10000多種可定制

2.輸出信號頻率：0.2到100Hz（陶瓷、單晶），1到1kHz(薄膜）

3.電容范圍：電流0到±6mA（陶瓷、單晶），±50mA(薄膜）連續(xù)可調,精度: ≤1%。

4.電流范圍: 1nA～10A ,精度: ≤1%。

5、溫度測量范圍:0-200℃

6. 匹配高溫電致應變測試模塊、夾具及自動采集軟件。

7.測試速度：測量時間《5秒/樣品•溫度點

8. 樣品規(guī)格：塊體材料尺寸：直徑2-100mm，厚度0.1-10mm，薄膜：直徑：1-60mm

9. 數據采集分析軟件： 能畫出鐵電薄膜的電滯回線，定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流等參數;可以進行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試，電阻測量，漏電流測量。

10、控制方式：計算機實時控制、實時顯示、實時數據計算、分析與存儲

11、軟件采集：自動采集軟件，分析可以兼容其他相關主流軟件。

GWJDN-1000型寬頻高溫介電測量系統主要技術參數

         GWJDN-1000型寬頻高溫介電測量系統

關鍵詞：高溫介電，

GWJDN-1000型高溫介電測量系統（2019款）高溫介電測量系統應用于高溫環(huán)境下材料、器件的導電、介電特性測量與分析，通過配置不同的測試設備，完成不同參數的測試。是高溫介電測試系統測試裝置，是國家科研院所和高等學府的重要材料測試設備。

一、主要用途：

1、測量以下參數隨溫度（T）、頻率（f）、電平（V）、偏壓（Vi）的變化規(guī)律：

2、測量電容（C）、電感（L）、電阻（R）、電抗（X）、阻抗（Z）、相位角（￠）、電導（G）、電納（B）、導納（Y）、損耗因子（D）、品質因素（Q）等參數，

3、同時計算獲得反應材料導電、介電性能的復介電常數（εr）和介質損耗（D）參數。

4、可測試低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能

5、可以根據用戶需求，定制開發(fā)居里溫度點Tc、機電耦合系數Kp、機械品質因素Qm及磁導率μ等參數的測量與分析。系統集低溫環(huán)境、溫度控制、樣品安裝于一體；具有體積小、操作簡單控溫精度高等特點。

二、主要技術參數：

主要技術參數：

1、溫度范圍： 室溫-1000℃

2、測溫精度：   0.1℃

3．升溫速度：   1—20℃/min

4、控溫模式： 程序控制，提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

5、通訊接口：   RS-485

8、電極材質： 鉑銥合金

9、上電極： 直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層

10、下電極：直徑26.8mm平面電極，引線帶同軸屏蔽層

11、保護電極：  帶保護電極，消除寄生電容、邊界電容對測試的影響

12、電極干擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽，樣品平臺帶屏蔽罩

13、夾具升降控制： 帶程序和手動控制，可更換夾具的電動升降裝置

14、熱電偶 ：熱電偶探頭與樣品平臺為同一熱沉，測控溫度與樣品溫度保持一致

15、無電極樣品尺寸：直徑小于40mm，厚度小于8mm

16、帶電極樣品尺寸： 直徑小于26mm，厚度小于8mm

17、軟件功能：自動分析數據，可以分類保存，樣品和測量方案結合在一起，生成系統所需的實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

18、測量方案：    提供靈活、豐富的測試設置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

19、標準極化樣品：8片（10mm*1.5mm）

20、配套設備裝置：能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測試儀進行測量

21、配套設備裝置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具

23、測試頻率：20HZ-10MHZ

24、測試電平:100mV—2V

25、分辨率：1MHZ

26、輸出阻抗:  100Ω

27、測試參數：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

28、基本準確度:   0.05%

29、顯示:液晶顯示

30、參數測量：多功能圖形和參數測量

31、接口方式:   RS232C或HANDLER

HTIM-600C型材料高溫電阻率測試儀主要技術參數

HTIM-600C型材料高溫電阻率測試儀

關鍵詞：電阻率，體電阻，表面電阻，CNAS

HTIM-600高溫電阻率測試儀是一款針對于材料的測量設備，可以出具CNAS整體認證的專業(yè)材料高溫測量設備，該儀器采用使用方法多樣化，2000V，6.4ms的采集系統，實現了是以往產品300倍的抗干擾功能6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進行低電容檢查，2×10^19 Ω顯示，0.1fA分辨率標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的懸浮式電路，能不受測量環(huán)境影響進行穩(wěn)定測量，并且運用在產線中實現高速測量?？蓪崿F絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗方法標準設計開發(fā)，可以直接測量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時間變化的曲線，高溫絕緣材料電阻率測試儀系統已經在航天航空傳感器領域得到很好的應用。

一、主要用途：適用于新材料評估的特性:

1、用于陶瓷元件的絶縁劣化試驗

2、貼片電容的IR測量

3、MLCC（多層陶瓷電容器）的絕緣測量

4、光伏電池薄膜的絕緣測量

5、噪音濾波器的絕緣（高阻）測量

6、液晶設備的絕緣測量

7、涂層（涂料）的表面電阻率測量

8、外殼的帶電度的測量

9、二極管的微笑泄漏電流測量

10、光電耦合器的初級/次級絕緣（高電阻）測量

11、打印機墨粉輥軸的絕緣測量

12、用于針對半導體廠家的絕緣密封件的評估試驗

13、用于組裝在貼片機、分選機、自動化設備中

一、產品特點：

1、多種使用方法的超絕緣計,提供CNAS計量合格證書

2、能夠作為IR表、靜電計等高電阻計，以及作為皮安表這種微小電流計來使用，使用方法非常豐富的測量儀器。

2、能不受測量環(huán)境影響進行穩(wěn)定測量，并且運用在產線中實現高速測量2000V輸出

3、偏差1/60，抗噪音性能300倍, 通過全新的SM懸浮式電路和三軸連接器的組合，大幅提高抗噪音性能。

4、輸出電壓從0.1V到1000V，能夠以0.1V為單位任意設置

5、6.4ms的高速檢查, 高速檢查和50mA的預充電功能的組合可以實現高產量的MLCC檢查。

5、高溫爐膛，耐高溫、抗氧化的測試夾具,提供CNAS計量合格證書

二、主要技術參數：

1、體積電阻率和表面電阻率測試范圍10的4次方Ω.cm~10的15次方Ω.cm；

2、測試電壓：10V、50V、100V、250V、500V、1000V

3、電極材質：600℃不氧化，三電極尺寸為25mm（被保護電極直徑）、38mm（保護電極內徑）、50mm（保護電極外徑），樣品厚度在3mm以內；

3、測量精度：①電阻≤1010Ω時，精度±5％；電阻>1010Ω時，精度±10%；②電壓＜100V時，精度±5%，電壓≥100V時，精度±2％；

2、溫度范圍;室溫~600℃；

3、控溫精度：溫度≤300℃，精度±1℃，溫度＞300℃，精度±2℃；控溫設備需有測溫口；（能夠通過計量CNAS認證）

4、測試軟件：①可設置連續(xù)升溫測試，得到不同溫度下體積電阻率、表面電阻率具體值，直接得到體積電阻率-溫度曲線、表面電阻率-溫度曲線；

5、溫度精度：可設置在某一具體溫度點測試，得到體積電阻率、表面電阻率在不同時間點的具體值，直接得到體積電阻率-時間曲線、表面電阻率-時間曲線；

5、電腦要求：windows10 系統，內存16G以上，CPU四核；

6、升溫速率0℃/min~ 10℃/min（不做計量要求）；

7、能通氮氣，測試時在高溫和氮氣環(huán)境下測試；

9、符合GB/T31838、GB/T10581、GB/T1410標準；

10、排氣口有過濾裝置；

HTRT-1000型導電材料高溫電阻率測試儀技術參數

HTRT-1000型導電材料高溫電阻率測試儀

關鍵詞：電阻率，導電，合金高溫

電阻率表征技術是典型的金屬、合金相變行為研究手段，比如在先進鋼中的碳運動行為分析、或是合金析出動力學研究、以及形狀記憶合金的預相變行為表征的方面。電阻率對這些相變行為則非常敏感，應用電阻率手段研究合金析出動力學行為也是非常重要的手段，是一種可以對合金時效析出過程全時段實現監(jiān)控的手段。同時，通過電阻率的演化規(guī)律，可以清晰的判斷GP區(qū)、析出孕育時間、析出結束（析出量大）和熟化過程等不同的階段。對于所有析出強化合金，電阻率數據都可以提供重要的工藝指導。此外，預相變過程中出現納米疇并導致模量軟化和弛豫內耗行為，特別是在相變初期，用電鏡觀察很難實現，而納米疇的出現卻表現為電阻率的升高，因此通過電阻率演化可以清晰的表征納米疇出現的溫度和疇面積的演化過程。

HTRT-1000本系統主要由高精度高穩(wěn)定度的小電流源、高精度AD采樣芯片以及嵌入式芯片，上位機智能管理分析軟件、真空多段溫控加熱設備組成的金屬電阻率智能存儲分析儀器。測試金屬樣品根據測試工藝要求任意設定加熱、降溫曲線，通過過程中電阻率的精密測量，完成對金屬內部結構變化如相變、碳化物、固溶度等特性的分析。

一、用途：

1、棒材、管材、異型材金屬導電性能測量

2、金屬材料研究

3、碳系導電材料的電阻率和電導率測量

4、金屬氧化物系導電材料的電阻率和電導率測量

5、石墨烯金屬材料的導電性能測試

二、器成套組成： 

1.溫度控制箱：任意設定多段加熱、保溫曲線，加熱范圍:室溫至1000℃?？販鼐?plusmn;1oC。

2.真空加熱爐管：采用石英真空管實現真空密閉狀態(tài)，達到6*10-2Pa。

3.控制信號盒：高精度的恒流源200uA-10mA,通過計算機通信控制實現連續(xù)可調（或定制），測量到1uΩ。

4.計算機：通信控制溫控儀加熱曲線，實時接收當前溫度值并存儲顯示。結合溫度值顯示電阻率-溫度曲線。同時存儲過程的測試條件信息，測試過程的數據。完成數據庫的基本管理、查詢、打印等功能。

5.   低溫裝置：低溫實驗可延伸-150℃，完成高低溫實驗功能。

6.   app遠程監(jiān)控：手機app完成對實驗設備主要參數的監(jiān)控，不必守在爐子旁邊也能了解實驗目前的狀態(tài)。 

7.適用于科研單位、高等院校對金屬材料的導電性能、微結構變化、相變信息等測試。

三、基本技術參數

1、控溫范圍；-150 ℃-1000 ℃，精度：-150 ℃-1000 ℃，精度±1 ℃

2、測量范圍：電  阻：1×10-6～1×10-1 Ω   ， 分辨率：1×10-7Ω

電阻率：1×10-7～1×10-2 Ω-mm， 分辨率：1×10-8

3、 材料尺寸：200mm*5mm*1mm,500mm*5mm*1mm,1000mm*5mm*1mm

4、 四線探針；0.5 mm-0.7mm   

5、夾具：針對不同的樣品可以設計不同的夾具

6、外形尺寸：主   機  1300mm（長）×800 mm（寬）×500mm（高）

7、凈   重：≤60kg

BKTEM-T1型熱電賽貝系數測試儀

BKTEM-T1型熱電賽貝系數測試儀以測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系數及電導率.

應用范圍：1、可測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數及電導率、電阻率。

3、塊體和薄膜材料測均可以測試。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

5、擁有自分析軟件，獨立分析，過程自動控制，界面友好。

6、國內高等院校材料系研究或是熱電材料生產單位。

7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領域、熱電制冷.
  8、很多其他工業(yè)和研究領域-每年都會誕生新的應用領域

技術指標要求

測量溫度：   室溫-600℃

同時測試樣品數量：  1個

測量功能：   材料賽貝克系數和電阻率Seebeck系數及電導率

控溫精度：   0.5K

測量原理：   塞貝克系數：靜態(tài)直流電；電阻系數：四端法

測量精度：   塞貝克系數：＜±7％；電阻系數：＜±10％

樣品尺寸; 塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長，薄膜材料：≥50 nm

熱電偶導距:  ≥6 mm

電   流； 0 to 160 mA

加熱電極相數/電壓：        單相，220V，

 WLDR-1000型激光導熱測試儀

WLDR-1000型激光導熱測試儀是中科院物理所研發(fā)的一款采用一束激光照射樣品，用紅外檢測器測量樣品背面溫度的升高，是一種快速的非接觸式測量熱導率的儀器。來計算樣品的熱擴散系數。具有快速、方便的特點。其測量熱擴散系數為0.001...10cm2/sec, 并可測量樣品的比熱，進一步計算導熱系數。激光導熱儀適用于絕大多數材料導熱性能的測試，絕熱材料除外。激光導熱儀尤其適用于高導熱材料和高溫下的導熱性能的測試，廣泛應用于材料、汽車、航天、電子、化工、能源等領域，是目前生產單位和高等院校的重要科研設備。

一、產品符合：GJB 1201.1-91固體材料高溫熱擴散率試驗方法激光脈沖法

ASTMD   1461 閃光法測定熱擴散系數

ASTM   E2585 用閃光法測量熱擴散率

GBT   22588 閃光法測量熱擴散系數或導熱系數

二、主要特點：

1、消除了樣品外緣的干擾信號，可大大提高測量結果的準確度。

2、數據采集速率，極窄的光脈沖寬度，允許測量薄的高導熱的材料

3、多種數學模型擬合，精確的脈沖寬度修正與脈沖能量積分，熱損耗修正，內置數據庫

4、能實現真空測量和保護氣氛測量兩種模式

5、使用紅外檢測器，進行非接觸式的樣品表面溫升信號測試

6、可進行多層接觸熱阻分析，并計算熱阻、熱擴散速率等參數，使用已知比熱的標樣、通過比較法可計算比熱；

二、主要技術性能

1、溫度范圍：室溫~500℃，600℃，1000℃。（超低溫需要定制）

2、導熱系數測試范圍：0.1～300W/mK， 1～500W/mK，10～1000W/mK；

3、熱擴散系數范圍：0.01～1000mm2/s；

4、Cp重復性：±3% (多數材料)

5、熱擴散系數重復性：±2 (多數材料)

6、試樣測試范圍：方形≥10×10mm，圓形：φ12～20（另可選20特殊規(guī)格），厚度0.1～10mm；（最佳厚度：3mm）

7、脈沖能量：15J/次，脈沖能量及間隔可調

8、傳感器類型：Insb/MCT,風冷

9、信號探測方式：紅外檢測器進行非接觸式的樣品表面溫升信號測試；

10、試樣測試范圍：方形不小于10×10mm，圓形φ12～20（另可選20特殊規(guī)格），厚度0.1～10mm；盡量選3mm厚的樣；

11、測試樣品種類：固體塊狀、低粘度液體、高粘度液體、粘性半固體、彈性固體、薄膜等均可適應，固體粉末需特需定制；

12、測試樣品通道：單通道

13、氣氛：能實現真空測量和保護氣氛測量兩種模式（氣氛：惰性、氧化、還原、靜態(tài)、動態(tài)），標配為常溫常壓空氣環(huán)境；

14、軟件功能：可進行多層接觸熱阻分析，并計算熱阻、熱擴散速率等參數，使用已知比熱的標樣、通過比較法可計算比熱；

15、可連接計算機實現全自動控制，中文操作界面，自動打印試驗報告；

16、多種數學模型擬合，精確的脈沖寬度修正與脈沖能量積分，熱損耗修正，內置數據庫。

17、設備尺寸：120*110*125CM

18、重量：80KG