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模式測(cè)量電路，與傳統(tǒng)的 Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度取決于積分器積分電容的精度，減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn)，且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線還可以定量得到鐵電薄膜材料的和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流k等參數(shù)，以及對(duì)鐵電薄膜材料的鐵電勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試，能夠較全面確地測(cè)量鐵

TDZT-04C 鐵電材料測(cè)試儀 關(guān)鍵詞：電滯回線，疲勞，脈沖，漏電流， TDZT-04C鐵電測(cè)試儀通過(guò)全局總線進(jìn)行控制，可以有效提高儀器控制速度及安全水平。設(shè)備采用孔浮地技術(shù)，可有效地降低電荷泄露造成的驅(qū)動(dòng)能力弱及電壓泄露隱患。高壓部分與低壓部分通過(guò)浮地結(jié)構(gòu)隔離，并在低壓部分配置有高壓放電管及附屬設(shè)施，從而避免因高壓泄露造成的損害。 本次研發(fā)采用DDS數(shù)字脈沖輸出技術(shù)，可以在技術(shù)

ZJ-4型寬量程型D33系數(shù)綜合測(cè)試儀,壓電測(cè)試儀（靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x）是為測(cè)量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計(jì)的專用儀器，可以測(cè)量任意形狀的壓電陶瓷材料，也可以薄膜PVDF材料，在之前的基礎(chǔ)上添加了薄膜拉伸裝置，可以更加直觀的了解薄膜在拉伸條件下的D33數(shù)值。對(duì)試樣大小及形狀無(wú)特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長(zhǎng)條、柱形及半球殼等均可測(cè)量，增加了對(duì)被測(cè)元件的放電保護(hù)、放電提示以及被測(cè)波形輸出等功能

JKZC-JMZK25高頻精密壓電阻抗分析儀是一款新的使用自動(dòng)平衡電橋技術(shù)及四端對(duì)開(kāi)爾文測(cè)試端、測(cè)量頻率范圍涵蓋20Hz~25MHz，最小分辨率1mHz，基本測(cè)量精度可達(dá)0.05%。,提供內(nèi)部偏置電壓±40V偏置電壓源，有多種測(cè)試夾具電導(dǎo)率σ·介電常數(shù)ε的運(yùn)算功能，是壓電材料，電阻，電容，電器等得重要檢測(cè)設(shè)備。

Model ZJ-4B quasi-static piezo d33Meter are the special instruments for measuring piezoelectric constant d33 of various kind of piezoelectric materials, such as piezoelectric ceramics, crystals, and p

PZT-HA800型壓電高壓放大器是一種數(shù)顯型高壓放大器，電壓放大倍數(shù)，電流，電壓等參數(shù)直觀顯示。 儀器設(shè)計(jì)增加多重保護(hù)設(shè)置，使用更人性化，性能更優(yōu)。 壓電材料是一種能夠?qū)C(jī)械能和電能互相轉(zhuǎn)換的陶瓷材料。壓電陶瓷除具有壓電性外，還具有介電性、彈性等, 已被廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)成像、聲傳感器、聲換能器、超聲馬達(dá)等。壓電陶瓷利用其材料在機(jī)械應(yīng)力的作用下，引起內(nèi)部正負(fù)電荷中心相對(duì)位移而發(fā)生極化，導(dǎo)致材料兩端