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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 材料電學(xué)性能測(cè)試儀 > 電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) > DCD-100DCD-100型儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)
廠商性質(zhì)
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2024-11-06訪問量
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,能源,電子,航天,電氣 |
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目前常規(guī)的方法是通過電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度，測(cè)試時(shí)，樣品的電荷是放回到高壓源上，而不是釋放到負(fù)載上，通過電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的能量密度，無法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能。DCD-100儲(chǔ)能型電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)專為研究?jī)?chǔ)能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設(shè)計(jì)，適用陶瓷、薄膜材料，可進(jìn)行變溫下的欠、過阻尼充放電測(cè)試。是目前研究?jī)?chǔ)能材料的重要科研設(shè)備，是目前高等院校和科研院所的設(shè)備。
1、內(nèi)置直流高壓模塊，大電壓：10kV，20KV 多種可選，電流：0-5mA；
2、通過電流探頭監(jiān)測(cè)放電電流，可達(dá)100A-200A；
3、可以實(shí)現(xiàn)欠阻尼和過阻尼兩種測(cè)試模式，欠阻尼測(cè)試時(shí)，放電回路短路，不使用電阻負(fù)載，過阻尼測(cè)試時(shí)，使用較大的高精度無感電阻作為放電負(fù)載；
4、通過示波器采集數(shù)據(jù)，并能直接計(jì)算儲(chǔ)能密度；
9、專業(yè)的載樣平臺(tái)，適用于陶瓷和薄膜樣品測(cè)試；
10、可以變溫測(cè)試，0-250℃；
11、可以疲勞測(cè)試，飽和極化，剩余極化等功能
12、本系統(tǒng)采用特殊高壓開關(guān)，通過單刀雙擲控制充電和放電過程，開關(guān)可以承受10kV高壓，寄生電容小，動(dòng)作時(shí)間短；
二、主要參數(shù)
1、電流探頭帶寬：120MHz
2、峰值電流：0-100A，150 A(多種電流可監(jiān)測(cè)）
3、電流采集精度：1mA
4、高壓源模塊：3KV，5KV， 10kV，15KV多可選（電流：0-5mA）
5、開關(guān)適用：100萬次，耐壓15kV。
6、溫控范圍：0-250℃。
7、溫度穩(wěn)定性和精度：0.1℃
8、測(cè)試樣品：薄膜，厚膜，陶瓷，玻璃等
9、可以疲勞測(cè)試，飽和極化，剩余極化等多種參數(shù)測(cè)試
10、可以配合各種極化設(shè)備進(jìn)行多種壓電材料和介電材料的測(cè)試
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