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FE-5001型鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試

描述:FE-5001型鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試是一款功能豐富的鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家
  • 更新時間

    2024-10-22
  • 訪問量

    345
詳細介紹
品牌其他品牌產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,航天,綜合

FE-5001鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試

關(guān)鍵詞:電滯回線,疲勞Fatigue,漏電流LM,電流-偏壓

FE-5001型鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試

 

FE-5001鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試是一款功能豐富的鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。

鐵電參數(shù)測試主要性能指標(biāo):

a. 外接5 kV高壓放大器;

b. 動態(tài)電滯回線測試頻率范圍0.01 Hz ~ 1 kHz;

c. 最大電荷解析度:10 mC;

d. 疲勞測試頻率300 kHz(振幅10 Vpp,負載電容1 nF);

e. 漏電流測量范圍 1 pA ~ 20 mA,分辨率0.1 pA;

f. 配有高壓擊穿保護模塊。

本測試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺(配鐵電測試盒)或高低溫探針臺(配高壓探針)、計算機及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能,主控器提供擴展外置高壓放大器接口,可擴展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測試時,無需改變測試樣品的連接,即可實現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IV等性能測試。

鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),容易定標(biāo)和校準,并且能實現(xiàn)較高的測量準確度。

該系統(tǒng)測試功能:

動態(tài)電滯回線DHM

I-V特性

脈沖PUND

疲勞Fatigue

漏電流LM

電流-偏壓。

 


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