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型號(hào)：
JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)

描述：JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)是一款專用介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由S916測(cè)試裝置（夾具）、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國(guó)際電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家

  • 更新時(shí)間

    2024-11-06

  • 訪問量

    162
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JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)

  JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ），塊體，粉末

JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)是一款專用介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由S916測(cè)試裝置（夾具）、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國(guó)際電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的解決方案。本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。高頻Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

一 JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)本設(shè)備適用標(biāo)準(zhǔn)
1 GBT 1409-2006 測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法
3 ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法

二 JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)主要測(cè)試材料:
1 固體材料：絕緣導(dǎo)熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA,大米,豬肉等 2 液體材料：去離子水,全氟聚醚,果汁,甲醇,油類等

三 AS2855介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)組成：

1 主機(jī)：JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)主機(jī)

功能名稱：

JKZC-JDS04-A主機(jī)QBG-3E

JKZC-JDS04-B主機(jī)QBG-3F

JKZC-JDS04-C主機(jī)AS2853A

信號(hào)源范圍DDS數(shù)字合成信號(hào)

20HZ-1MHz

10KHZ-/70MHZ/110MHz

100KHZ-160MHz

信號(hào)源頻率精度:6位有效數(shù)

3×10-5 ±1個(gè)字

3×10-5 ±1個(gè)字

3×10-5 ±1個(gè)字

Q測(cè)量范圍

1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程

1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程

1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程

Q分辨率

4位有效數(shù),分辨率0.1

4位有效數(shù),分辨率0.1

4位有效數(shù),分辨率0.1

Q測(cè)量工作誤差

<5%

<5%

<5%

電感測(cè)量范圍:4位有效數(shù),分辨率0.1nH

1nH-8.4H , 分辨率0.1nH

1nH-8.4H 分辨率0.1nH

1nH-140mH分辨率0.1nH

電感測(cè)量誤差

<5%

<5%

<5%

調(diào)諧電容

主電容30-540pF

主電容30-540pF

主電容17-240pF

電容直接測(cè)量范圍

1pF～2.5uF

1pF～2.5uF

1pF～25nF

調(diào)諧電容誤差
分辨率

±1 pF或<1%
0.1pF

±1 pF或<1%
0.1pF

±1 pF或<1%
0.1pF

諧振點(diǎn)搜索

自動(dòng)掃描

自動(dòng)掃描

自動(dòng)掃描

LCD顯示參數(shù)

F，L，C，Q，Lt，Ct等

F，L，C，Q，Lt，Ct，Tn，Er等

F，L，C，Q，Lt，Ct，Tn，Er等

殘余電感自動(dòng)扣除功能

有

有

有

大電容值直接測(cè)量顯示功能

測(cè)量值可達(dá)2.5uF

測(cè)量值可達(dá)2.5uF

測(cè)量值可達(dá)25nF

介質(zhì)損耗系數(shù)

精度 萬(wàn)分之一

精度 萬(wàn)分之一

精度 十萬(wàn)分之五

介電常數(shù)

精度 千分之一

精度 千分之一

精度 千分之一

材料測(cè)試厚度

0.1mm-15mm

0.1mm-15mm

0.1mm-15mm

介電常數(shù)

自動(dòng)測(cè)試

自動(dòng)測(cè)試

自動(dòng)測(cè)試

USB接口



支持介電常數(shù)輸出以及產(chǎn)生曲線

JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)介電常數(shù)

JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)介質(zhì)損耗

JKZC-JDS04型材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng) USB接口上位機(jī)（介電常數(shù)曲線）

2介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：

　　固體電極：材料測(cè)量直徑 Φ38mm/Φ6mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm （二選一）
　　液體電極：測(cè)量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）


3 LKI-1電感組

電感No

電感量

準(zhǔn)確度%

Q值≥

分布電容約略值

諧振頻率范圍 MHz

適合介電常數(shù)測(cè)試頻率

QBG-3E/F

AS2853A

1

0.1μH

±0.05μH

200

5pF

20~70

31~103

50MHz

2

0.5μH

±0.05μH

200

5pF

10~37

14.8~46.6

15MHz

3

2.5μH

±5%

200

5pF

4.6~17.4

6.8~21.4

10MHz

4

10μH

±5%

200

6pF

2.3~8.6

3.4~10.55

5MHz

5

50μH

±5%

200

6pF

1~3.75

1.5~4.55

1.5MHz

6

100μH

±5%

200

6pF

0.75~2.64

1.06~3.20

1MHz

7

1mH

±5%

150

8pF

0.23~0.84

0.34~1.02

0.5MHz

8

5mH

±5%

130

8pF

0.1~0.33

0.148~0.39

0.25MHz

9

10mH

±5%

90

8pF

0.072~0.26

0.107~0.32

0.1MHz

10

0.05μH

±5%

100

5pF



100MHz




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