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型號(hào):GWJDN-1000
北京精科智創(chuàng)科技高低溫介電測(cè)試系統(tǒng)

描述:高低溫介電測(cè)試系統(tǒng)用于高低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能測(cè)試與分析,可測(cè)試以下參數(shù)隨溫度(T)、頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律:電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù),同時(shí)計(jì)算獲得反應(yīng)材料介電性能的復(fù)介電常數(shù)和介電損耗參數(shù)。系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、方便,可靈活定制測(cè)試項(xiàng)目。測(cè)試材料的介電頻譜、

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間

    2025-03-04
  • 訪問(wèn)量

    139
詳細(xì)介紹
品牌Microtrac/拜爾產(chǎn)地類(lèi)別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域電子,冶金,航天,電氣

高低溫介電測(cè)試系統(tǒng)(用于陶瓷,薄膜,粉末,塊體)

高低溫介電測(cè)試系統(tǒng)用于高低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能測(cè)試與分析,可測(cè)試以下參數(shù)隨溫度(T)、頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律:電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(?)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù),同時(shí)計(jì)算獲得反應(yīng)材料介電性能的復(fù)介電常數(shù)和介電損耗參數(shù)。

系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、方便,可靈活定制測(cè)試項(xiàng)目。測(cè)試材料的介電頻譜、阻抗頻譜、介電溫譜、阻抗溫譜、導(dǎo)納譜、cole-cole圖以及C-V特性。



北京精科智創(chuàng)科技高低溫介電測(cè)試系統(tǒng)

                       高低溫介電系統(tǒng)組成

北京精科智創(chuàng)科技高低溫介電測(cè)試系統(tǒng)

                             高溫介電一體化設(shè)計(jì)

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                           介電測(cè)試夾具的關(guān)鍵性

北京精科智創(chuàng)科技高低溫介電測(cè)試系統(tǒng)

                                                  高低溫介電系統(tǒng)的功能特點(diǎn)

         

北京精科智創(chuàng)科技高低溫介電測(cè)試系統(tǒng)

     

                                 介電測(cè)試帶電極和不帶電極都能測(cè)試


     北京精科智創(chuàng)科技高低溫介電測(cè)試系統(tǒng)  


                        兼容國(guó)內(nèi)外多種LCR表,測(cè)試頻率無(wú)上限

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