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  • ECM -150型電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)
    ECM -150型電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) ECM -150型電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)是一款專為測(cè)試高壓下鐵電材料表面溫度變化的測(cè)量系統(tǒng)。通過添加在材料表面的電場(chǎng)值變化，探測(cè)材料的溫度值變化。本系統(tǒng)由真空系統(tǒng)與溫度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)組成，能適用于陶瓷等材料的...
  • ?JGWDZ-1000型金屬材料高溫電阻測(cè)量系統(tǒng)
    ?JGWDZ-1000型金屬材料高溫電阻測(cè)量系統(tǒng) JGWDZ-1000型金屬材料高溫電阻測(cè)量系統(tǒng)
  • GWYDR-500型高溫高壓電容測(cè)試系統(tǒng)
    GWYDR-500型高溫高壓電容測(cè)試系統(tǒng) GWYDR-500型高溫高壓電容測(cè)試系統(tǒng)是一款專為實(shí)驗(yàn)室研制的高精度高溫高壓壓電容測(cè)試系統(tǒng)，突破了傳統(tǒng)的測(cè)量方式，采用變頻電源技術(shù)，利用單片機(jī)和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算；達(dá)...
  • YDZ-01壓電材料電阻率綜合測(cè)試儀（常溫）
    YDZ-01壓電材料電阻率綜合測(cè)試儀（常溫） YDZ-01壓電材料電阻率測(cè)試儀（常溫）儀器適用于工礦企業(yè)、科研院壓電材料及絕緣材料電阻測(cè)量。也可用于微弱電流測(cè)量如光電效應(yīng)和器件暗電流測(cè)量。該儀器采用環(huán)形三電極，適用于一般片狀、薄膜狀樣品，可以測(cè)試...
  • FlexTest-X系列柔性材料與器件測(cè)試系統(tǒng)
    FlexTest-X系列柔性材料與器件測(cè)試系統(tǒng) FlexTest-X系列柔性材料與器件測(cè)試系統(tǒng)是目前針對(duì)于市場(chǎng)上的柔性材料而研制的測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)配置了不同的測(cè)試夾具，不僅可以測(cè)試柔性材料的折，彎，扭，拉，卷等五種基本動(dòng)作，而且可以進(jìn)行高低溫測(cè)試，...
  • MXG-RT300毛細(xì)管樣品冷熱臺(tái)
    MXG-RT300毛細(xì)管樣品冷熱臺(tái) MXG-RT300為毛細(xì)管樣品而設(shè)計(jì)，此產(chǎn)品可用于顯微鏡/光譜儀，可在 -190℃ ~ 600℃ 范圍內(nèi)控溫，同時(shí)允許光學(xué)觀察和樣品氣體環(huán)境控制。熱臺(tái)上蓋與底殼構(gòu)成一個(gè)較為密閉的腔室，可往內(nèi)充入氮?dú)獾?..
  • DLTB-600型地質(zhì)流體包裹體C測(cè)試裝置
    DLTB-600型地質(zhì)流體包裹體C測(cè)試裝置 DLTB-600型地質(zhì)流體包裹體冷熱臺(tái)測(cè)試裝置DLTB-600測(cè)量地質(zhì)流體包裹體的均一化溫度和冰點(diǎn)溫度是地質(zhì)流體包裹體研究中一項(xiàng)重要的內(nèi)容。巖礦鑒定，包裹體均一溫度、鹽度、壓力的精確測(cè)定，為成巖史、油...
  • WGDX-150型實(shí)驗(yàn)室微型壓電陶瓷高低試驗(yàn)箱
    WGDX-150型實(shí)驗(yàn)室微型壓電陶瓷高低試驗(yàn)箱 WGDX-150型實(shí)驗(yàn)室微型壓電陶瓷高低試驗(yàn)箱關(guān)鍵詞：微型，實(shí)驗(yàn)級(jí)，高低溫，壓電陶瓷
  • KJ-SPC-3000小型半自動(dòng)絲網(wǎng)印刷機(jī)
    KJ-SPC-3000小型半自動(dòng)絲網(wǎng)印刷機(jī) KJ-SPC-3000系列是一款小型半自動(dòng)絲網(wǎng)印刷機(jī)，采用微電腦式單片機(jī)控制，可進(jìn)行手動(dòng)或半自動(dòng)兩種模式的絲網(wǎng)印刷。工作臺(tái)帶吸氣孔，可吸附薄膜基底，大印刷面積為280mm*350mm，刮刀恒壓控制，確...
  • BWGP-2000型變溫光譜測(cè)試系統(tǒng)
    BWGP-2000型變溫光譜測(cè)試系統(tǒng) BWGP-2000型變溫光譜測(cè)試系統(tǒng)（高低溫光譜系統(tǒng)） BWGP-2000變溫光譜測(cè)試系統(tǒng)可以測(cè)試樣品在低溫和高溫下光譜發(fā)射的變化情況，該儀器配置不同系能得光譜可以用于透射、反射、吸收光譜是樣品...
  • JKRY-1000小型高溫?zé)釅簷C(jī)（溫度1100°C）
    JKRY-1000小型高溫?zé)釅簷C(jī)（溫度1100°C） JKRY-1000小型高溫?zé)釅簷C(jī)（溫度1100°C）
  • GTC-700梯溫析晶測(cè)定儀，梯度爐
    GTC-700梯溫析晶測(cè)定儀，梯度爐 GTC-700梯溫析晶測(cè)定儀，梯度爐是具有一定溫度梯度的熱處理爐，將玻璃試樣放在梯溫爐內(nèi)保溫一定時(shí)間，隨后在空氣中冷卻，通過確定析晶位置和對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)梯溫曲線，測(cè)定玻璃的析晶溫度范圍。制結(jié)束后，用戶可以在...
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