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本測(cè)試系統(tǒng)用于鐵電體的鐵電性能測(cè)量，可用于鐵電體的科學(xué)研究及近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲(chǔ)器的鐵電性能檢測(cè)中，本測(cè)試系統(tǒng)主要由信號(hào)源、高壓電源、電荷放大器、積分器、示波器、計(jì)算機(jī)通訊接口、計(jì)算機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。 模式測(cè)量電路，與傳統(tǒng)的 Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度取決于積分器積分電容的精度，減少了對(duì)測(cè)試

模式測(cè)量電路，與傳統(tǒng)的 Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度取決于積分器積分電容的精度，減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn)，且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線還可以定量得到鐵電薄膜材料的和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流k等參數(shù)，以及對(duì)鐵電薄膜材料的鐵電勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試，能夠較全面確地測(cè)量鐵

TDZT-04C 鐵電材料測(cè)試儀 關(guān)鍵詞：電滯回線，疲勞，脈沖，漏電流， TDZT-04C鐵電測(cè)試儀通過(guò)全局總線進(jìn)行控制，可以有效提高儀器控制速度及安全水平。設(shè)備采用孔浮地技術(shù)，可有效地降低電荷泄露造成的驅(qū)動(dòng)能力弱及電壓泄露隱患。高壓部分與低壓部分通過(guò)浮地結(jié)構(gòu)隔離，并在低壓部分配置有高壓放電管及附屬設(shè)施，從而避免因高壓泄露造成的損害。 本次研發(fā)采用DDS數(shù)字脈沖輸出技術(shù)，可以在技術(shù)

TDZT-04型鐵電性能綜合測(cè)試儀是適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測(cè)量，可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線，可測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。

JKGT-G300高溫鐵電材料測(cè)試儀是一套建立在高溫高壓下的鐵電測(cè)量系統(tǒng)，旨在針對(duì)一些特殊的要求材料需要在高溫下測(cè)量而研發(fā)的一套鐵電測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅僅在溫度上將實(shí)現(xiàn)了高溫測(cè)試，而且在電壓和頻率上進(jìn)行了提高，對(duì)我們的鐵電材料研究和測(cè)試帶來(lái)更加重要的幫助，該系統(tǒng)可以測(cè)量鐵電材料的電滯回線，飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V。